碧波液压网 欢迎你,游客。 登录 注册

用内建自测试(BIST)方法测试IP核

作者: 赵尔宁 邵高平 来源:微计算机信息 日期: 2022-06-20 人气:9
用内建自测试(BIST)方法测试IP核
近几年基于预定制模块IP(Intellectual Property)核的SoC(片上系统)技术得到快速发展,各种功能的IP核可以集成在一块芯片上,从而使得SoC的测试、IP核的验证以及IP核相关性的测试变得非常困难,传统的测试和验证方法难以胜任.本文通过曼彻斯特编码译码器IP核的设计、测试,介绍了广泛应用于IP核测试的方法-内建自测试(Built-InSelf Test )方法,强调了面向IP测试的IP核设计有关方法.
    共1页/1条