数字电路测试的关键在于算出测试向量。文章对数字电路的功能测试和测试生成进行研究，介绍了D算法的基本概念及在数字电路故障检测中的应用。讨论了数字电路自动测试生成系统实现的关键技术，主要包括故障的模型、仿真和压缩；可测试性度量；测试向量生成算法（ATPG）以及测试向量压缩优化，并介绍了数字系统测试生成平台的整体框架。