用X射线全反射技术可以使X射线单色化，用这种单色化的特征X射线作为激发源可以大大降低X射线荧光光谱仪的本底信号，提高仪器的检测灵敏度。本文介绍了这种仪器的结构原理、性能特点及应用。

扫描探针显微镜是近十几年来在表面特征、表面形貌观测方面最重大的进展之一,是纳米测量学的基本工具.叙述了扫描探针显微镜的工作原理、检测模式及在观察检测纳米级的粗糙度、微小尺寸、表面形貌方面的特点和方法,比较了原子力显微镜、常规的表面轮廓仪、干涉显微镜、扫描电子显微镜在表面特性、表面形貌观测方面的性能,着重介绍了扫描探针显微镜在粗糙度、纳米尺寸、表面形貌观测方面的应用和存在的问题.

介绍了一种由德国GKSS研究中心A.Prange和D.Schaumloffel设计再经他们与美国CETAC公司联合，进一步开发成功的供毛细管电泳（CE）和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）联用的商品化的接口-CEI-100的性能和应用。本文的目的是开拓国内的ICP-MS在元素化学形态分析方面的应用。