本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件（准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式）和测量方法（有无标准片校准及不同校准方法）进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。