针对数字光处理（DLP）投影机所用光源,提出了基于光阑小孔成像和CCD相机的光源色度坐标和亮度分布测量方法,建立了相应的光源测试系统.分析了DLP光源的结构及其对锥形光束的影响,并对测试系统中的CCD进行了光谱响应曲线测试和三基色校正,以得到准确的颜色测量值.测试结果表明,绝大多数DLP光源的色度坐标与D65光源接近,而光源的亮度分布特性对最终DLP投影画面的成像质量有很大的影响,并可用几何中心与亮度中心之间的偏差来表示.

介绍了数字光处理（DLP）投影系统的工作原理，提出了基于光学调制传递函数（MTF）的成像质量测量方法．利用绿场传感信号探测数字微镜器件（DMD）的快速翻转，并实现数字微镜器件翻转、电荷耦合器件（CCD）曝光时间和图像采集三者之间的严格同步．对数字微镜器件图像在x、y两个方向上进行快速傅里叶频谱分析，根据其二阶调制传递函数幅值提出了3个评价指标，分别反映数字光处理投影系统中像质的最差值、平均值以及离散度．实验结果表明，该方法的设计思路合理可行，成像质量测试系统具有良好的精度和稳定度，可以为数字光处理投影机的质量控制提供有效的评估手段．

介绍了利用数码成像器件测量不均匀面光源亮度的有效方法，分析了它与传统点式亮度计的差别。对影响数码成像亮度测量精度的成像定标、非线性校正，多重曝光等几种方法进行了模拟和讨论，为数码成像亮度仪的设计提供了理论依据。

随着人们对光谱测量仪器灵活性、微型化的要求，便携式光纤光谱仪在实际生产测量中的需求也越来越大，对其测量性能的要求也越来越高。根据光纤光谱仪的测量原理，利用波长与CCD探测器单元格一一对应的关系，提出了一种波长校正的方案，波长校准精度可以达到0．5nm，重复性达0．1nm。

介绍了几种实用的灯具分布光度测试系统的原理和结构,并对各种系统的性能作了对比分析.重点介绍了一种大型旋转反光镜式空间光分布测试系统,通过使用一个大型椭圆旋转反光镜将光源的光信号反射到光度计探头[1],增加了探测器与光源之间的距离,从而对测试场所的尺寸要求降低.另外,光源的光线不直接到达探测器的受光面上,也减少了杂散光对测量结果的影响.

在分析发光二极管(LED)光色特性的特殊性和复杂性的基础上,试着寻求得到更加准确数据的测试方法.封装、温度、探测器、测量定律等都可对LED参数的测量结果产生重大的影响,只有减小各项误差后才可以得到接近真实的测量结果.

设计等离子体显示板(PDP)真空紫外荧光测试系统来测评PDP荧光粉的特性.系统通过巧妙设计测试腔,模拟PDP放电单元,为激发PDP荧光粉发光提供所需要的较强真空紫外线,使系统能够分析出荧光粉的光谱功率分布、发光亮度、带宽、发射谱线主峰波长、色品坐标、颜色纯度和主波长等各种光学特性.实验结果数据表明,该系统的可重复性好、精度高,为研制高质量的等离子体显示板提供了依据.