在北京同步辐射装置上，利用3W1B柬线得到了21°-B4C／Si，21°-B4C／Mo，10°-Cr／Ti，15°-B4C/w，10°-B4C／W以及6．86°-B4C／w等多层镜在50～1500eV能段上的反射率标定曲线．分析了标定结果的不确定度，计算得到多层镜的积分衍射效率，并修正了标定结果．

介绍了利用滤片和Si半导体探测器差分阵列组合的硬X光谱仪的工作原理、结构性能和测谱特点。给出ICF实验考核结果。