针对变质锆石增生边的离子探针地质年代学测试问题,设计研制了一种离子探针铟靶压平仪。该设备可以使锆石不经过抛磨就能直接平整地固定于铟靶中,从而将离子探针的分辨率从横向上大于5μm提高到纵向上1μm,解决变质锆石狭窄增生边的分析难题。