中国科学院科学仪器厂制造的Dx一3A型扫描电镜，配有双道x光分光晶体光谱仪，可对试样进行微区成份分析。在进行定量分析时，谱仪的操作、数据的采集和计算是很繁杂的。国外先进的电子探针显微分析仪已实现了谱仪操作的自动化及连机数据处理。通常是采用内存容量相当大和运算速度相当快的小型计算机来实现的〔1〕。在某些特定的应用中，我们尝试用内存容量仅为数K的单板计算机来解决一些问题。例如，我们需要大量测定红外探测器材料Hgl--xCdXTe晶体的x值，并评价x值的横向分布均匀性。这里试样中元素的种类是已知的，各元素的大致含量也是知道的，(需耍测定精确值)而每一个样品上要分析的点数很多，样品数也是大量的。为完成这些重复性的操作和计算，我们用Z--80单板机连接于DX--3A电镜的X光谱仪上。