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75Se源γ射线透照工艺性能试验

作者: 强天鹏 李兆太 顾阎如 王东 李伟 江枫 来源:无损检测 日期: 2023-08-20 人气:29
75Se源γ射线透照工艺性能试验
通过透照试验,比较75Se源γ射线、192Ir源γ射线与X射线的照相特性,以及不同射线源与不同种类胶片和不同厚度增感屏的组合系统的照相灵敏度;测定了75Se源γ射线的透照厚度与灵敏度的关系,提出了75Se射线照相适用的厚度范围.
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