介绍了中国计量科学研究院在真空紫外-软X射线波段（5～105 nm）探测器标准研究的新进展。介绍了建立在中国科学技术大学国家同步辐射实验室的以稀有气体电离室为标准探测器的探测器校准装置,以及利用该电离室作为基准探测器对作为传递标准探测器的硅光电二极管的量子效率测量的结果,在5～35 nm范围内,相对标准不确定度为18%～20%。与NIST的结果相比,有较好的符合。

介绍了用于阳加速器上Z箍缩内爆实验诊断的Dante谱仪的结构和通道配置,详细讨论了X射线二极管、掠入射平面反射镜和滤片等主要元器件的标定结果,分析了标定结果与理论计算发生偏差的原因,给出了喷气Z箍缩等离子体辐射的测量结果,X光辐射功率30-40 GW,能量约0.8 kJ,并与闪烁体光电管测量结果进行了比较,差异约20%。

在北京同步辐射装置上，利用3W1B柬线得到了21°-B4C／Si，21°-B4C／Mo，10°-Cr／Ti，15°-B4C/w，10°-B4C／W以及6．86°-B4C／w等多层镜在50～1500eV能段上的反射率标定曲线．分析了标定结果的不确定度，计算得到多层镜的积分衍射效率，并修正了标定结果．

本文介绍了世界上利用同步辐射建立辐射计量标准的现状,对利用同步辐射建立真空紫外--软X射线波段的光源标准和探测器标准的原理方法进行了论述,并介绍了我们在这方面的工作和取得的阶段性成果.

提出了透射光栅谱仪整体标定的建议，并在北京同步辐射源上首次对ICF实验中所用的透射光栅谱仪进行了整体标定,获得了与分别标定基本一致的结果。与分别标定相比,整体标定具有实验步骤少、实验数据处理简单、标定结果使用更加直接等优点。