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使用AFM测量纳米尺度线宽的不确定度研究

作者: 褚巍 赵学增 王凌 肖增文 李洪波 来源:计量学报 日期: 2023-02-01 人气:7
使用AFM测量纳米尺度线宽的不确定度研究
针对NanoscopeⅢ型原子力显微镜,进行了纳米尺度线宽测量的不确定度分析.提出一个线宽测量的误差校正步骤,确定并分析了影响测量结果不确定度的4方面因素.根据实验和测量过程,分析和计算得到被测样品的线宽值、不确定度分量以及合成不确定度.
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