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> 纳米线宽
使用AFM测量纳米尺度线宽的不确定度研究
作者:
褚巍
赵学增
王凌
肖增文
李洪波
来源:
计量学报
日期: 2023-02-01
人气:7
针对NanoscopeⅢ型原子力显微镜,进行了纳米尺度线宽测量的不确定度分析.提出一个线宽测量的误差校正步骤,确定并分析了影响测量结果不确定度的4方面因素.根据实验和测量过程,分析和计算得到被测样品的线宽值、不确定度分量以及合成不确定度.
关键词:
计量学
纳米线宽
测量不确定度
原子力显微镜
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