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PI参数自整定扫描探针显微镜控制器的设计

作者: 侯锡立 靳鹏云 来源:微细加工技术 日期: 2022-07-25 人气:1
PI参数自整定扫描探针显微镜控制器的设计
为了解决传统扫描探针显微镜(SPM)控制器中参数难以设定的难题,提出了一种SPM的PI参数自整定控制器的设计,并给出了控制器的硬件结构和软件设计。该控制器基于DSP,通过引入扫描式参数优化算法来实现。结果表明,该控制器能自动完成PI参数的测算,并给出最优的PI参数,提高了SPM扫描图像的质量。
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