JWH-1A型晶体管涡流测厚仪主要用来测最铝及其合金材料的氧化膜厚度，也能测蟹其他非磁性金属表面的绝缘层厚度。它的测量范围及精度:0~50士1.5微米;0~100士3微米。可测最小外径小8毫米，最小内孔小20毫米。JWH-1A型涡流厕厚仪是在我所过去生产的WH-1型测厚仪的基础上改进制成，前者不同于后者的是:前者有一个气压式的内孔探头，能测内孔膜厚，采用电池供电的晶体管电路，较轻便，后者则没有内孔探头，采用市电供电的电子管电路，较笨重些。