在样品分析过程中所发生的谱线位移,对多通道光谱仪测试结果的影响常常被忽视.但它所导致的谱线强度下降与错位,对测试结果准确性的影响确是存在的.所以在测试过程中,保持谱线始终处于正确位置而不发生位移是至关重要的.分析这种位移的影响,提出一种从根本上克服这种位移的动态校正方法,即通过数字跟踪、分段锁定的方式,将谱线位置钳制在出射狭缝的正中,从而可以不考虑测试时间多长,确保在整个测试时间内谱线位移基本为零.同时介绍数字跟踪、步进电机精确定位技术等智能化校正系统主要的软硬件设计方法.