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> 光束偏转法
计量型原子力测头模型研究及性能分析
作者:
卢明臻
高思田
杜华
崔建军
来源:
纳米技术与精密工程
日期: 2023-02-03
人气:4
建立了具有立体光路的光束偏转法原子力测头的模型,给出测头的放大能力,证明光路不会对光束偏转法的分辨力造成影响.分析了光路特性,说明光斑运动轨迹与规律.以此为基础完成了一个用于纳米计量的原子力测头.测头读数可溯源.测头的重复性通过实验验证,测头信号实验标准差为0.318nm.该测头应用在“2.5维大范围纳米结构测量系统”中,对台阶高度样板进行测量,取得了良好结果.
关键词:
纳米计量学
原子力显微镜(AFM)
光束偏转法
溯源
台阶高度样板
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