巧用光学构件形成平行光束回转，使结构简单而小型化，脉冲检测采用次摆线扫描，缩短了检测时间，利用光一次回转周期的脉冲振荡模式，能识别被测元器件的不同表面缺陷（伤痕，裂纹，裂缝等）、分布密度及其交错状态。