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基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计

作者: 张家田 杨忠华 严正国 来源:电子元器件应用 日期: 2021-10-31 人气:7
基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计
为了测试电路系统的频率响应特性,通常需要在电路系统输入端加上不同频率的激励,然后再测量电路的输出以得到频率响应函数。文中介绍了由单片机和DDS构成的频率响应测试仪设计方法,同时给出了单片机中的软件处理流程。试验结果表明,本测试仪测量精度高,操作方便。
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