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LLL型X射线干涉仪中的晶片厚度的最佳选择

作者: 王林 曹芒 来源:安徽建筑 日期: 2023-06-17 人气:9
LLL型X射线干涉仪中的晶片厚度的最佳选择
要实现X射线干涉测量,关键是Moire条纹要有良好的对比度,接收信号要有足够的强度。影响Moire条纹对比度及信号强度的因素很多,仅对通过优化干涉仪中晶片的尺寸实现Moire条纹高对比度及信号高强度的方法进行了理论分析。
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