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基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计

作者: 张清 特日格乐 董翔 来源:电子设计工程 日期: 2022-05-24 人气:5
基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计
该系统基于扫频外差基本原理,以单片机和FPGA构成的最小系统为控制核心.可在任意指定频段内测量被测网络的幅频和相频特性并显示相应曲线。系统分DDS扫频信号源、被测网络、幅度和相位检测、控制模块及幅频、相频特性曲线显示等部分,在100Hz~100kHz范围内可自动步进测量被测网络的幅频特性和相频特性并自动设置频段范围,观察不同频段内网络的幅频特性和相频特性,并在示波器上同时显示幅频曲线和相频曲线。
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