针对激光惯性约束核聚变辐射的X射线分析，可得到关于等离子体电子密度、温度、电荷分布等重要信息。研究的X射线弯晶谱仪分析器是用来诊断X射线光谱，进而实现对激光惯性约束核聚变的控制。探讨了椭圆弯晶谱仪理论原理，分析了积分反射率和质量吸收系数。弯晶谱仪采用LiF弯晶分析器，椭圆焦距2C为1350mm，椭圆离心率e为0.9586，晶体布拉格角范围为30°至60°。在此对LF弯晶分析器的制作工艺进行详细描述。实验结果表明，该晶体分析器对X射线的分辨率（λ／△λ）可达900以上，能够用来对激光等离子体的X射线光谱进行诊断。

描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统（EBCS—XCCD），研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法，推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式，使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推，辨认出了激光等离子体X射线源能谱，并与文献[1]的结果进行了比较，结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性，表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下，可以获得X射线源光谱强度，为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化x射线激光研究奠定了基础。

设计了测试能量范围为0．6～6keV的椭圆弯晶谱仪。此谱仪利用椭圆自聚焦原理，晶体分析器采用氟化锂材料，椭圆焦距为1350mm，离心率为0．9586，布拉格角范围为30～65°。在神光Ⅱ靶室进行了实验，入射激光波长为0．35pm，激光功率约为1．6×10^14W／cm^2，与厚度为100弘m的钛平面靶法线夹角约为45°。实验结果证实，弯曲的氟化锂晶体具有极佳探测效果，弯晶分析器对波长为0．2～O．35nm的X射线的分辨率可达500～1000，同时具有等光程而便于空间分辨测量的优点，在同样距离条件下比平晶分析器高一个数量级的收光效率，故适合于激光等离子体x射线的光谱学研究。