近场扫描光学显微镜中，切向力的检测有两种方法：光学检测法和非光学检测法。目前普遍采用的非光学检测法，其中上是采用压电陶瓷产生振荡，检测振幅在切向力作用下的衰减，从而控制探针和样品的距离。