研制了可对一维高温温度场进行测量的扫描式高温计．该扫描式高温计分为旋转扫描式光学系统、比色高温计和上位机三个部分．在分析温度场测量要求的基础上，推导了比色光学高温计的测量原理，建立了数学模型．基于光的反射理论，研究了旋转扫描式光学系统与一维温度场之间的运动关系．利用光学光纤将光学探头接收的光信号进行远距离传输，增加了测量的便利性和整套装置对测量环境的适应能力，专用的微型工控及控制系统提高了这套装置独立工作及与其他设备进行协调合作的能力．对比色高温计的波长函数和测量精度进行了标定，校验结果表明在800℃～3500℃范围内的测量精度为1％．最后，利用扫描式高温计对棒状碳／碳试样的轴向温度场进行了测量，通过几个固定点温度对一维温度场的测量精度进行了校验，最大测量误差为3．09％...

为了对通电加热条件下圆棒状试样轴向温度分布的快速测量,我们成功研制了具有宽温度测量范围的扫描式温度计。该装置由常规的光纤比色温度计和扫描式光学探头组成。整套装置可测量的温度范围为800-3500℃,测量精度为〈1%,温度最快响应时间为10μs,扫描视角为40,°并具有光学瞄准、光纤远传、RS232外设接口、测试最高温度数字显示和温度分布曲线描绘等功能。