针对惯性约束聚变激光等离子体诊断系统的特殊需求．提出采用对数型轴锥镜来实现长焦深功能，并采用超高斯边缘匀滑、中心切趾及选择合适的器件参数等方法优化了长焦深器件的性能。模拟实验证明，为了得到满足要求的长焦深、小焦斑、小旁瓣和均匀的轴上及横向光场分布的聚焦光束，对数型轴锥镜的焦深应为3～5mm；元件中心须采用切趾，而且切趾半径应为15～60mm；元件边缘宜采用5阶超高斯匀滑。设计出焦深长达3mm、轴上光强均匀、旁瓣峰值小于中心强度的2％且横向光斑较均匀的长焦深器件，可以满足激光等离子体诊断的要求，并用菲涅耳衍射积分对该元件光场的模拟实验验证了该方法的可行性。

介绍了利用滤片和Si半导体探测器差分阵列组合的硬X光谱仪的工作原理、结构性能和测谱特点。给出ICF实验考核结果。

描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统（EBCS—XCCD），研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法，推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式，使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推，辨认出了激光等离子体X射线源能谱，并与文献[1]的结果进行了比较，结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性，表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下，可以获得X射线源光谱强度，为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化x射线激光研究奠定了基础。