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基于单片机的荧光寿命法温度测量仪的研究

作者: 魏泽鼎 郝琳 郑惠萍 来源:仪表技术与传感器 日期: 2024-05-17 人气:18
基于单片机的荧光寿命法温度测量仪的研究
为了解决温度测量中的非线性和响应速度问题。研究了基于单片机89V51RD2计数原理测量荧光寿命的测温装置。研究发现,由于荧光比激发光滞后一个荧光寿命时间,把产生荧光的激发信号和监测到的荧光信号进行异或运算,用单片机测量出异或电路置1的时间,这个时间就是荧光寿命,再根据荧光寿命和温度的对应关系式可计算出被测量温度。分析表明,在0-100℃范围内,基于单片机的荧光寿命法温度测量仪的分辨率为0.01℃,测量精度为±0.05℃,响应时间为0.01 s,解决了温度测量中的非线性和响应速度的问题。
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