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真空微波器件超高真空排气设备测温系统误差的校正

作者: 陆玉新 来源:真空电子技术 日期: 2024-04-29 人气:23
通过分析真空微波器件和排气台经常出现的高温(550℃)漏气的现象,发现现有排气台烘箱测温系统存在问题。从理论上对这一问题进行了分析,并在实验上验证了这一分析。理论和实验表明,随着温度的升高,现有排气台烘箱显示温度与真实温度相差增大。真实温度比最高显示温度高71℃。解决了困扰微波管排气工艺过程中高温漏气的难题。
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