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光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究

作者: 薛利军 李自田 李长乐 计忠瑛 崔艳 王忠厚 来源:光子学报 日期: 2023-06-25 人气:22
光谱成像仪CCD焦平面组件非均匀性校正技术研究
分析了光谱成像仪CCD焦平面的非均匀性机理和各种非均匀性校正算法,提出两点多段的非均匀性校正算法,该算法避免了两点校正算法的低准确度和多点校正算法的大运算量.在光谱成像仪上的应用结果表明,两点多段的非均匀性校正算法具有运算量小、准确度高、实用性强的优点.
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