介绍了一种根据电涡流效应和法拉第磁光效应设计出的磁光／涡流显微成像检测系统，实现了亚表面下细小缺陷的可视化。本系统选用执行效率高的VC作为开发工具来设计图像处理软件，并采用VFW技术实现了对该缺陷图像的实时获取。试验结果进一步验证了系统设计的正确性。