钛膜中氢同位素的深度分布
为评估氢同位素效应对其在贮氢金属中深度分布的影响,对H/D–Ti、D/T–Ti、D–Ti及T–Ti样品用7.4MeV的^4He离子束进行30°方向弹性反冲(ERD)分析。由H/D–Ti样品ERD能谱获得其1.7μm深度的D分布,结合D–Ti样品ERD能谱的~3μm深度的H、D分布进行了模拟分析。结果表明,H、D含量均随深度增加,其分布曲线基本一致,说明在Ti中H、D的分布互不干涉,样品制备过程中其同位素效应不明显。用同样的方法对DT–Ti样品中的D、T分布进行了模拟分析。结果表明,在1.7μm深度内D、T的分布基本均匀,但由于D、T的能谱过于靠近,其解谱误差较大。用3.0MeV的质子对HD–Ti和D–Ti进行的质子背散射(PBS)分析表明,两样品中的D分布趋势一致,证明了Ti中H、D的分布互不干涉,样品制备过程其同位素效应不明显的结论。
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