磁偏转质谱计是根据离子在磁分析器中运动时，不同质荷比的离子有不同的偏转半径原理来实现质量分离的。磁场大小和分布对质谱计的性能影响较大，因而设计时需要对质谱计磁场分布进行精确计算。应用有限元法建立了计算质谱计磁分析器磁场的物理模型，并利用这一模型计算了磁分析器磁感应强度在空间的分布情况。结果表明，在半径分别为20mm和50mm的1／4圆弧轨道上，其磁场分布规律类似。由于边缘磁场效应，在磁铁边界区域约3mm范围内，磁感应强度基本呈直线下降，这一结果为磁分析器的结构优化和边缘场补偿提供了理论依据。