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纳米级两维微位移工作台的参数测试

作者: 崔岩梅 周自力 曹航 来源:光学技术 日期: 2023-05-26 人气:21
纳米级两维微位移工作台的参数测试
为了分析纳米级两维微位移工作台引入的测量误差,介绍了其机械结构及工作原理,进行了定位准确度实验和运动方向的直线度(偏摆)实验,实验结果表明,工作台的定位准确度较高,运动方向的直线度在工作台工作范围内无需修正,即可满足高精度测量的需要。
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