基于折射定律设计光路，利用线阵电荷耦合器件（CCD）对光斑位移进行检测，研制成功小型的能够测量透明介质折射率的仪器，设计的测量折射率的范围显著增加．介绍了该仪器设计的基本原理、使用方法，并通过对一些材料折射率的测量，证明其具有较高的测量准确性．