使用氦质谱法检测双密封结构产品漏率时,示漏气体漏率示值稳定时间较长,检漏效率较低。针对此问题,建立了双密封结构泄漏模型,对检漏曲线进行了分析。在此基础上提出了一种基于指数函数拟合的稳定漏率判定方法,对10-6~10-8 Pa·m3/s范围内3条不同量级的漏率曲线进行了拟合分析。结果表明,该方法能有效解决稳定漏率判定难题,提高检漏效率。