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非均匀介质体中缺陷响应初探

作者: 郑礼全 郑钢丰 来源:压电与声光 日期: 2022-07-25 人气:5
非均匀介质体中缺陷响应初探
该文对非均匀介质固体中缺陷响应的研究,用多高斯光束(MGB)模型来表示入射超声波波束。在对缺陷响应的研究中,由于粗颗粒界面的散射作用,所以考虑到超声波在非均匀介质体中传播时的衰减以及相速度的频散特性。分析了不同尺寸的方形孔缺陷由于压电超声传感器距离其位置的不同对接收到回波信号的影响。
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