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微波干涉测量电子密度在SUNIST装置上的应用

作者: 易臻 来源:制造业自动化 日期: 2023-04-19 人气:5
微波干涉测量电子密度在SUNIST装置上的应用
微波在等离子体中传播时,相位会发生变化,通过相位的测量可以获取实时电子密度信息。这是微波诊断装置SUNIST托卡马克装置的首次使用,已经可以测量出放电过程中的电子密度曲线,测量范围在大约10^16~10^18(m^-3单位)。
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