DWDM窄带滤光片用高精度光学膜厚仪
随着信息技术的发展对高密度波分复用(DWDM)滤光片的需要越来越大。而高精度性能的光学薄膜膜厚监控系统是制备DWDM滤光片的关键,文中论述了所建立的制备用100GHz~50GHz DWDM滤光片的高精度高性能的光学膜膜厚监控系统。该系统的波长分辨力的0.1nm,重复性精度为±0.05nm,信噪比与温度漂移特性分别±0.01%和0.05%/h。还论述了该系统的实际实验结果。
一种新型多功能快速分光式膜厚仪
介绍了一种高性能的多通道光学薄膜膜厚监控系统的设计与制作,系统使用了CC秦为线阵探测器。详细论述了光源、接收器以及光纤导光系统物设计过程。实验表明该设备可以用于高精度高速测量,也适合于监控制作多层膜滤光片。
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