用白噪声方法测量了JEOL JEM2010（FEF）透射电子显微镜配备的MSC794型CCD相机的点扩展函数PSF（point spread function）．在恒定的均匀入射电子束强度下，用改变曝光时间的方法改变CCD相机的曝光量（计数）的方法，得到了该CCD相机的噪声响应特性．将测量结果用于图像复原，得到了衬度更好的电镜图像．复原之后的图像数据，可以用作定量电子显微学分析．