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无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究

作者: 杨跃胜 武岳山 熊立志 颜元 来源:现代电子技术 日期: 2022-06-11 人气:6
无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究
提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性,利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数,然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗,进而计算标签芯片的灵敏度。利用该方法对NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800~1 000MHz频段内灵敏度进行测试,并将测试结果与datasheet进行对照,分析误差产生的原因,最终证明此方法的准确性。该测试方法采用常规仪器对800~1 000MHz频段内灵敏度进行测试,有重要实际意义。
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