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JTUIS-Ⅳ型钎焊电触头超声检测系统
作者:
常谦
张亮亮
潘希德
王裕文
来源:
无损检测
日期: 2024-02-27
人气:19
针对触头焊接质量检测研制的JTUIS-Ⅳ超声无损检测系统,借助现代精密数控、数字信号处理及图像处理技术,通过超声回波探测触头内部结构,进行高质量C扫描成像。在不破坏电触头的前提下,获得钎焊面的焊合图像,同时可进行后期无损评估。实验验证了该系统可正确、稳定地应用于低压电触头钎焊质量检测领域。
关键词:
超声检测
低压电器
超声成像
C扫描
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