提出了用Ritchey-Common法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法.通过确立基准点将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下进行拼接,解决了在检验光路中因Ritchey角所引起的投影变形问题和如何消去因被检平面的大曲率所造成的像散.通过Zernike多项式拟合重建连续波面,可恢复全口径波面图像.

介绍了剪切干涉仪适时定量处理的方法。通过互相垂直两个方向的剪切图形，解算出镜面的实际形状。提出两种处理方法：即变换系数法和扩展了的联立方程求解法。然后介绍了在采样和处理过程中的技巧，最后对剪切干涉棱镜的发展和如何将移相干涉技术应用到剪切干涉中的可能性，做了初步的探讨。