根据超声C扫描成像原理,分析了采样间隔对超声C扫描图像分辨率的影响.采用一种基于局部协方差特征的边缘自适应图像插值方法来提高C扫描图像的分辨率,同时将图像局部均方差作为边缘特征判据,使算法得到了简化.该方法根据低分辨率图像的局部协方差估计出高分辨率图像的插值加权系数,能够在放大图像的同时保留图像的边缘特征.试验结果表明,基于局部协方差特征的图像插值方法明显提高了C扫描图像分辨率,并且减小了边缘模糊效应,因此降低了采样间隔对图像分辨率的影响,提高了图像中缺陷分布评价结果的准确性.

针对触头焊接质量检测研制的JTUIS-Ⅳ超声无损检测系统,借助现代精密数控、数字信号处理及图像处理技术,通过超声回波探测触头内部结构,进行高质量C扫描成像。在不破坏电触头的前提下,获得钎焊面的焊合图像,同时可进行后期无损评估。实验验证了该系统可正确、稳定地应用于低压电触头钎焊质量检测领域。