基于非晶硅面阵探测器，以像质计（Image Quality Indicator，IQI）灵敏度达到成像质量最高级B级，研究了IQI灵敏度各制约参数并进行优化．基于优化理论和试验数据，以被检测物体的等效钢厚为自变量，将各制约参数的最优值集为一曲线，为数字射线成像（Digital Radiography，DR）检测提供有效的工艺参数．

基于非晶硅面阵探测器的检测技术代替胶片成像已成为今后射线检测的发展方向.尽管该方法优点众多,但在需求多变的工业射线检测中,其成像质量无法达到胶片B级的像质.以PaxScan系列非晶硅面阵探测器为例,通过分析影响成像质量的原因和探测器性能,确定最佳成像的实验条件,对系统成像进行预处理和后续处理后,成像质量明显提高.实验证明,信号处理后的成像对比度优于B级成像,并在某航空发动机叶片的工业在线检测中取得了较好的效果.