层片结构共晶体由同向平行的片状夹杂和基体构成,片状夹杂和基体之间为强约束化学结合界面。首先建立四相模型,根据制备过程的温度变化,基于Eshebly理论得到基体内的残余应力和残余应变;然后在三相胞元应变均匀条件下,通过有效自洽理论得到片状夹杂和界面相的残余应力场;最后在基体、界面相和片状夹杂为各向同性的条件下,得到层片结构共晶体的残余应力分布规律,并分析其尺度效应。