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> 二次电子
扫描电子显微镜
作者:
刘剑霜
谢锋
吴晓京
陈一
胡刚
来源:
上海计量测试
日期: 2022-07-07
人气:3
随着科学技术的发展进步,人们不断需要从更高的微观层次观察、认识周围的物质世界.细胞、微生物等微米尺度的物体直接用肉眼观察不到,显微镜的发明解决了这个问题.目前,纳米科技成为研究热点,集成电路工艺加工的特征尺度进入深亚微米,所有这些更加微小的物体光学显微镜也观察不到,必须使用电子显微镜.电子显微镜可分为扫描电子显微镜简称扫描电镜(SEM)和透射电子显微镜简称透射电镜(TEM)两大类.
关键词:
扫描电子显微镜
二次电子
特征X射线
背散射电子
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