《无损检测》1999年第12期中“同一普通模拟超声仪上使用不同K值探头探伤的尝试 [1] ”介绍了换用不同K值探头如何进行探伤。该法仅适用于时基线按水平调节的情况,在实际工作中,有时会要求选择数种不同角度的探头配合使用,这时如在同一面板上作DAC曲线则在探伤时易互相影响,有时还会出现换用探头后探测范围不够的问题。如需用数种探头进行综合判断,则需携带相关试块至现场进行调节,极不方便,工作效率低。基于该文及作者的实践,讨论用普通模拟超声探伤仪和不同K值探头的探伤方法。