扫描电子显微镜（scarming electron microscope，SEM），与透射电子显微镜（TEM）有很多相似之处，它能够直接观察表面结构和形态，观察样品面积大，样品制备较TEM简单，上镜观察时可前后、左右旋转样品，可作三维观察，样品图像立体感好，分辨率介于光学显微镜和TEM之间，SEM数码图像资料远较TEM质量高，只是分辨率达不到TEM倍率。它是组织学、细胞学和细菌观察的有力工具。以下是我工作的一点体会。