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> 表面热透镜技术
用表面热透镜技术测量1315nm高反射硅镜弱吸收的研究
作者:
王英剑
胡海洋
李庆国
范正修
来源:
强激光与粒子束
日期: 2022-09-04
人气:3
运用表面热透镜技术精确测量了1315nm高反射硅镜的弱吸收,判断引起吸收的原因,从而为工艺上减少吸收降低损耗提供了保证。
关键词:
表面热透镜技术
弱吸收
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