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> 介质膜
高性能薄膜偏振器的分析与测量
作者:
杨科晓
来源:
光电工程
日期: 2022-09-10
人气:4
提出了一种简单有效的方法分析高性能堆积型薄膜偏振器,确定其等效介电常数及偏振特性,实际偏振器插入损耗和消光分贝的理论值分别为0.013dB和114dB,它们的测量值分别小于0.9dB和大于52.8dB。
关键词:
起偏器
金属薄膜
介质膜
偏振特性
薄膜偏振器
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