提出了一种非接触光学法--单光栅双图像法测量物体大位移的新技术.利用两个正交的图像记录系统,在试件作大位移后,记录被平行多光束照射形成的光点所覆盖的试件的图像,借助于记录光路系统几何参数,可建立一联立方程组.解此方程组,就可得到被测物体上诸光点所表示的测点的位移大小和坐标值.文中还论述了试件图像上测点位置的确定和修正方法,导出了被测物体图像负片上测点的实际坐标的计算公式.实验结果证明,本文提出的测量理论是正确的.