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> 总剂量效应
Xilinx FPGA抗辐射设计技术研究
作者:
薛利军
段晓峰
刘学斌
卫俊霞
石兴春
来源:
电子技术(上海)
日期: 2021-12-05
人气:3
针对Xilinx FPGA在航天应用中的可行性,文章分析了Xilinx FPGA的结构以及空间辐射效应对FPGA的影响,结合实际工程实践给出了提高其可靠性的一些有用办法和注意事项,如冗余设计、同步设计、自检等。表明配置信息的周期刷新和三模冗余设计是减轻单粒子效应的有效方法。
关键词:
可编程逻辑门阵列
总剂量效应
单粒子翻转
单粒子闩锁
单粒子功能中断
单粒子烧毁
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