描述了相干检测偏振共焦扫描显微成像技术的原理、方法和实验结果，给出了成像条件，并用这种技术分析测试了掺杂半导体纳米材料ＣｕＣ１和ＴｉＯ２聚乙烯薄膜的局域双折射性质和偏振特性。

讨论了共焦扫描光学显微镜的高分辨率性质,指出共焦扫描显微镜由于采用点探测器,因而视场大大减小,信噪比大大提高,同时每幅图像逐点扫描形成,在光学系统信息能力不变的前提下,系统的空间域通带宽度增加和时域通带宽度减小。因而可成高分辨率的像,特别是其独特的深度分辨率特性使得可以实现光学断层扫描成像。给出了所研制的共焦扫描荧光显微镜所获得光学断层扫描图像。